收藏
對比
編號 :
- 詳細參數
- 標准配置
- 選購件
-
- 商品名稱: S430近紅外光譜分析儀
近紅外光譜分析儀(Near Infrared Spectroscopy Analyzer,NIR光譜儀)是一種常用的非破壞性分析儀器,用于對物質進行近紅外光譜分析。下面對近紅外光譜分析儀進行簡單介紹。
近紅外光譜分析儀(Near Infrared Spectroscopy Analyzer,NIR光譜儀)是一種常用的非破壞性分析儀器,用于對物質進行近紅外光譜分析。下面對近紅外光譜分析儀進行簡單介紹。
近紅外光譜分析儀工作原理:
近紅外光譜分析基于樣品在近紅外波段(約700-2500 nm)吸收和散射特性來獲得相關信息。
儀器通過發射一束寬帶的近紅外輻射,並測量經過樣品後返回的反射或透射信號。
比較待測物質與參考標准之間的差異,利用數學算法建立模型,並根據模型預測待測樣品中的成分、含量或其他屬性。近紅外光譜分析儀特點和優勢:
1、非破壞性:不需要對樣品進行處理或破壞,可直接對固體、液體及氣體等不同形態的樣品進行檢測。
2、快速:可以在幾秒鍾到幾分鍾內完成一次掃描和數據處理,提供即時結果。
3、多參數檢測:可以同時檢測多個組分或屬性,在藥品、食品、化工等行業有廣泛應用。
4、無需樣品制備:不需要對樣品進行處理、稀釋或前處理,降低了操作的複雜性和時間成本。近紅外光譜分析儀使用操作規程:
1、根據使用說明書正確安裝儀器並連接所需電源和數據傳輸線。
2、打開儀器電源,並根據實驗要求選擇合適的波長範圍及參數設置。
3、准備好待測物質樣品,將其放置在樣品池或傳感區域中。
4、啓動測量程序,在一定時間內記錄下讀數穩定後的光強值或吸收譜線。
5、根據需要進行多次測量以獲得平均值,並記錄相關數據。近紅外光譜分析儀是一種常用的非破壞性分析儀器,通過近紅外光譜技術獲取物質的吸收和散射信息來預測其組成、含量或其他屬性,了解其工作原理、使用操作規程以及優勢可以幫助用戶正確使用和解讀檢測結果。
項目
內容
儀器型號
S430
測量方式
透射樣品池
探測器
日本濱松制冷型铟镓砷(InGaAs)
光譜帶寬nm
8
波長範圍nm
900~2500
波長准確度nm
±0.2
波長重複性nm
≤0.05
雜散光%
≤0.1
吸光度噪聲Abs
≤0.0005
分析時間
1分鍾(可調節)
數據傳輸方式
USB2.0
定標技術
MPLS改進最小二乘法回歸定標技術
DPLS光譜鑒定及定性分析技術
關鍵詞 :- 近紅外光譜分析儀
-
標准配置項目
數 量
近紅外分光光度計主機
一 台
熔絲(2A)
各2只
现有產品保修單
一份
電 源 電 纜
一 根
USB 通訊電纜
一 根
裝 箱 單
一 份
现有產品合格證明書 一 份 现有產品使用說明書 一 本 10mm 矩形比色皿(石英) 一盒(兩只) 2mm 矩形比色皿(石英) 一盒(兩只) U 盤 一只 數據處理軟件(預置 U 盤內) 一份
中文
EN